发明Inspection system for and method of inspecting deposits printed on workpieces

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申请号 US20060561495 申请日 2006年06月16日 最早公开日 2006年10月05日 所属国家/地区 美国
公开号及公开日 US2006222234A1   2006年10月05日
授权日 2017年09月27日 说明书附图
申请人 GAUKROGER DAVID A (英国)  
发明人 GAUKROGER DAVID A  
优先权 GB20030014233   20030619WO2004GB02649   20040618
专利分类号 G06K9/00   G01N21/956   H05K1/02   H05K3/12  
代理机构   代理人

名称及摘要

Inspection system for and method of inspecting deposits printed on workpieces
An inspection system for and method of inspecting deposits printed on workpieces through a printing screen, the system comprising: a camera unit movable relative to a printing screen, where comprising a body including a plurality of apertures, and a workpiece on which deposits are printed through the apertures of the printing screen; and a control unit operable to control the camera unit such as to capture images of at least one pair of corresponding regions of the printing screen and the workpiece, and process the images to determine, for each of a plurality of points defining the image of the printing screen, whether the point is of aperture, and, only where the point is of aperture, determine whether the corresponding point of the corresponding image of the workpiece, as defined by a corresponding plurality of points, is of deposit, thereby enabling a determination of a print characteristic of deposits printed on the workpiece from a relationship of the points determined to be of deposit to the points determined to be of aperture.
Inspection system for and method of inspecting deposits printed on workpieces
An inspection system for and method of inspecting deposits printed on workpieces through a printing screen, the system comprising: a camera unit movable relative to a printing screen, where comprising a body including a plurality of apertures, and a workpiece on which deposits are printed through the apertures of the printing screen; and a control unit operable to control the camera unit such as to capture images of at least one pair of corresponding regions of the printing screen and the workpiece, and process the images to determine, for each of a plurality of points defining the image of the printing screen, whether the point is of aperture, and, only where the point is of aperture, determine whether the corresponding point of the corresponding image of the workpiece, as defined by a corresponding plurality of points, is of deposit, thereby enabling a determination of a print characteristic of deposits printed on the workpiece from a relationship of the points determined to be of deposit to the points determined to be of aperture.

同族及引用

同族专利 (8) 引用其他专利(15) 被其他专利引用(23)

GB2403003B Inspection system for and method of inspecting deposits printed on workpieces
WO2004114217A3 INSPECTION SYSTEM FOR AND METHOD OF INSPECTING DEPOSITS PRINTED ON WORKPIECES
EP1639545A2 INSPECTION SYSTEM FOR AND METHOD OF INSPECTING DEPOSITS PRINTED ON WORKPIECES
CN1836257B 检查印刷在工件上的沉淀的方法及检查系统
US2006222234A1 Inspection system for and method of inspecting deposits printed on workpieces
US9791383B2 Inspection system for and method of inspecting deposits printed on workpieces
JP4990619B2 Inspection system for and method of inspecting deposits printed on workpieces
JP2011081006A INSPECTION SYSTEM FOR AND METHOD OF INSPECTING DEPOSIT PRINTED ON WORKPIECE
用于通过组合式模板印刷机和分配器在基板上沉积粘性材料的方法
Imaging system and method for a stencil printer
Optimal imaging system and method for a stencil printer
【Title of corresponding document:wo2015125173A1】
Off-axis illumination assembly and method
Method and apparatus for clamping a substrate
Drawing Point Data Obtainment Method and Apparatus
Single and multi-spectral illumination system and method
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PREPARATION AND ENANTIOMERIC SEPARATION OF 7-(3-PYRIDINYL)-1,7-DIAZASPIRO[4.4]NONANE AND NOVEL SALT FORMS OF THE RACEMATE AND ENANTIOMERS
Method and apparatus for adjusting a substrate support
IMAGING SYSTEM AND METHOD FOR A STENCIL PRINTER
OPTIMAL IMAGING SYSTEM AND METHOD FOR A STENCIL PRINTER
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在利用丝网印刷工艺将焊膏涂敷到印刷电路板上时产生测试图形的方法和设备
PROCESS AND DEVICE FOR GENERATING TEST PATTERNS WHEN APPLYING SOLDER PASTE BY A SCREEN PRINTING PROCESS ON PRINTED CIRCUIT BOARDS
SOLDER PRINTER
METHOD FOR CHECKING AMOUNT OF PRINTED CREAM SOLDER
METHOD AND APPARATUS FOR SCREEN PRINTING
APPARATUS AND METHOD FOR VISUAL INSPECTION OF CREAM SOLDER
APPEARANCE INSPECTING METHOD
SCREEN PRINTING INSPECTION METHOD AND SCREEN PRINTING DEVICE
METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING CIRCUIT PATTERN DEFECT
【Title of corresponding document:DE19728144A1】
SCREEN PRINTER
System for printed circuit board defect detection
Method and apparatus for inspecting solder paste using geometric constraints
Methods and apparatuses for in-line solder paste inspection
Method and apparatus for detecting solder paste deposits on substrates
Method for automated determination of reticle tilt in a lithographic system
Viewing and imaging systems
Automatic training of inspection sites for paste inspection
Process and device for generating test patterns when applying solder paste by a screen printing process on printed circuit boards
Screen inspecting apparatus, and screen printing machine having device for judging if openings are clogged
Machine vision methods and systems for boundary feature comparison of patterns and images
System and method for in-line inspection of stencil aperture blockage
PROCESS AND DEVICE FOR GENERATING TEST PATTERNS WHEN APPLYING SOLDER PASTE BY A SCREEN PRINTING PROCESS ON PRINTED CIRCUIT BOARDS

法律状态历史( 到官方网站查询 )

2005年12月19日 us_rqpr (更多信息: Request for Foreign Priority (Priority Papers May Be Included) , RQPR)
2005年12月19日 us_a.pe (更多信息: Preliminary Amendment , A.PE)
2005年12月19日 us_iexx (更多信息: Initial Exam Team nn , IEXX)
2006年01月12日 us_l194 (更多信息: Cleared by OIPE CSR , L194)
2006年04月18日 us_m905 (更多信息: Notice of DO/EO Missing Requirements Mailed , M905)
2006年06月16日 us_idsc (更多信息: Information Disclosure Statement considered , IDSC)
2006年06月16日 us_wids (更多信息: Information Disclosure Statement (IDS) Filed , WIDS)
2006年06月16日 us_m844 (更多信息: Information Disclosure Statement (IDS) Filed , M844)
2006年06月16日 us_371comp (更多信息: 371 Completion Date , 371COMP)
2006年06月16日 us_addflfee (更多信息: Additional Application Filing Fees , ADDFLFEE)
2006年06月16日 us_infodscl (更多信息: Information Disclosure Statements , INFODSCL)
2006年06月16日 us_oathdecl (更多信息: A statement by one or more inventors satisfying the requirement under 35 USC 115, Oath of the Applic , OATHDECL)
2006年07月06日 us_oipe (更多信息: Application Dispatched from OIPE , OIPE)
2006年07月06日 us_m903 (更多信息: Notice of DO/EO Acceptance Mailed , M903)
2006年07月10日 us_ti1050 (更多信息: Transfer Inquiry to GAU , TI1050)
2006年08月25日 us_tsscomp (更多信息: IFW TSS Processing by Tech Center Complete , TSSCOMP)
2006年11月21日 us_ti1050 (更多信息: Transfer Inquiry to GAU , TI1050)
2007年01月24日 us_dock (更多信息: Case Docketed to Examiner in GAU , DOCK)
2007年06月26日 us_dock (更多信息: Case Docketed to Examiner in GAU , DOCK)
2007年09月04日 us_dock (更多信息: Case Docketed to Examiner in GAU , DOCK)
2007年10月16日 us_f525 (更多信息: Flagged for 5/25 , F525)
2007年10月17日 us_w525 (更多信息: Withdraw Flagged for 5/25 , W525)
2008年06月23日 us_ctnf (更多信息: Non-Final Rejection , CTNF)
2008年06月27日 us_mctnf (更多信息: Mail Non-Final Rejection , MCTNF)
2008年12月29日 us_a... (更多信息: Response after Non-Final Action , A...)
2008年12月29日 us_xt/g (更多信息: Request for Extension of Time - Granted , XT/G)
2009年01月16日 us_fwdx (更多信息: Date Forwarded to Examiner , FWDX)
2009年04月13日 us_ctfr (更多信息: Final Rejection , CTFR)
2009年04月14日 us_mctfr (更多信息: Mail Final Rejection (PTOL - 326) , MCTFR)
2009年10月14日 us_n/ap (更多信息: Notice of Appeal Filed , N/AP)
2009年10月14日 us_xt/g (更多信息: Request for Extension of Time - Granted , XT/G)
2010年01月14日 us_ap.b (更多信息: Appeal Brief Filed , AP.B)
2010年01月14日 us_xt/g (更多信息: Request for Extension of Time - Granted , XT/G)
2010年02月02日 us_apbr (更多信息: Appeal Brief Review Complete , APBR)
2010年02月02日 us_fwdx (更多信息: Date Forwarded to Examiner , FWDX)
2010年04月23日 us_apea (更多信息: Examiner's Answer to Appeal Brief , APEA)
2010年04月26日 us_mapea (更多信息: Mail Examiner's Answer , MAPEA)
2010年05月01日 us_pacc (更多信息: Exam. Ans. Review Complete , PACC)
2010年06月28日 us_aprb (更多信息: Reply Brief Filed , APRB)
2010年07月07日 us_fwdx (更多信息: Date Forwarded to Examiner , FWDX)
2010年07月15日 us_rbne (更多信息: Reply Brief Noted by Examiner , RBNE)
2010年07月16日 us_mrbne (更多信息: Mail Reply Brief Noted by Examiner , MRBNE)
2010年07月19日 us_apwd (更多信息: Appeal Awaiting BPAI Docketing , APWD)
2010年07月23日 us_ap_dk_m (更多信息: Docketing Notice Mailed to Appellant , AP_DK_M)
2010年07月23日 us_apas (更多信息: Assignment of Appeal Number , APAS)
2013年07月23日 us_mapda (更多信息: Mail BPAI Decision on Appeal - Affirmed , MAPDA)
2013年07月23日 us_apda (更多信息: BPAI Decision - Examiner Affirmed , APDA)
2013年09月23日 us_idsc (更多信息: Information Disclosure Statement considered , IDSC)
2013年09月23日 us_rcap (更多信息: Reference capture on IDS , RCAP)
2013年09月23日 us_m844 (更多信息: Information Disclosure Statement (IDS) Filed , M844)
2013年09月23日 us_rcex (更多信息: Request for Continued Examination (RCE) , RCEX)
2013年09月23日 us_wids (更多信息: Information Disclosure Statement (IDS) Filed , WIDS)
2013年09月23日 us_brce (更多信息: Workflow - Request for RCE - Begin , BRCE)
2013年09月25日 us_fwdx (更多信息: Date Forwarded to Examiner , FWDX)
2013年09月25日 us_abn9 (更多信息: Disposal for a RCE / CPA / R129 , ABN9)
2013年11月21日 us_ctnf (更多信息: Non-Final Rejection , CTNF)
2013年11月22日 us_mctnf (更多信息: Mail Non-Final Rejection , MCTNF)
2014年03月24日 us_a... (更多信息: Response after Non-Final Action , A...)
2014年03月24日 us_xt/g (更多信息: Request for Extension of Time - Granted , XT/G)
2014年03月26日 us_fwdx (更多信息: Date Forwarded to Examiner , FWDX)
2014年07月18日 us_ctfr (更多信息: Final Rejection , CTFR)
2014年07月22日 us_mctfr (更多信息: Mail Final Rejection (PTOL - 326) , MCTFR)
2015年01月22日 us_n/ap (更多信息: Notice of Appeal Filed , N/AP)
2015年01月22日 us_ap.c (更多信息: Request for Pre-Appeal Conference Filed , AP.C)
2015年01月22日 us_xt/g (更多信息: Request for Extension of Time - Granted , XT/G)
2015年02月09日 us_apcp (更多信息: Pre-Appeals Conference Decision - Proceed to BPAI , APCP)
2015年02月13日 us_mapcp (更多信息: Mail Appeals conf. Proceed to BPAI , MAPCP)
2015年06月22日 us_t1off (更多信息: track 1 OFF , T1OFF)
2015年06月22日 us_ap.b (更多信息: Appeal Brief Filed , AP.B)
2015年06月22日 us_xt/g (更多信息: Request for Extension of Time - Granted , XT/G)
2015年06月26日 us_apbr (更多信息: Appeal Brief Review Complete , APBR)
2015年08月11日 us_fwdx (更多信息: Date Forwarded to Examiner , FWDX)
2015年11月16日 us_apea (更多信息: Examiner's Answer to Appeal Brief , APEA)
2015年11月18日 us_pacc (更多信息: Exam. Ans. Review Complete , PACC)
2015年11月19日 us_elc_rvw (更多信息: Electronic Review , ELC_RVW)
2015年11月19日 us_eml_ntf (更多信息: Email Notification , EML_NTF)
2015年11月19日 us_mapea (更多信息: Mail Examiner's Answer , MAPEA)
2016年01月19日 us_aprb (更多信息: Reply Brief Filed , APRB)
2016年01月21日 us_arbp (更多信息: Appeal ready for BPAI review , ARBP)
2016年01月25日 us_apwd (更多信息: Appeal Awaiting BPAI Docketing , APWD)
2016年02月01日 us_apas (更多信息: Assignment of Appeal Number , APAS)
2016年02月03日 us_eml_ntr (更多信息: Email Notification , EML_NTR)
2016年02月03日 us_ap_dk_m (更多信息: Docketing Notice Mailed to Appellant , AP_DK_M)
2017年03月16日 us_apdr (更多信息: BPAI Decision - Examiner Reversed , APDR)
2017年03月20日 us_elc_rvw (更多信息: Electronic Review , ELC_RVW)
2017年03月20日 us_eml_ntf (更多信息: Email Notification , EML_NTF)
2017年03月20日 us_mapdr (更多信息: Mail BPAI Decision on Appeal - Reversed , MAPDR)
2017年06月06日 us_ex.r (更多信息: Reasons for Allowance , EX.R)
2017年06月09日 us_n/=. (更多信息: Notice of Allowance Data Verification Completed , N/=.)
2017年06月13日 us_elc_rvw (更多信息: Electronic Review , ELC_RVW)
2017年06月13日 us_eml_ntf (更多信息: Email Notification , EML_NTF)
2017年06月13日 us_mn/=. (更多信息: Mail Notice of Allowance , MN/=.)
2017年09月13日 us_n084 (更多信息: Issue Fee Payment Verified , N084)
2017年09月13日 us_ifee (更多信息: Issue Fee Payment Received , IFEE)
2017年09月14日 us_pils (更多信息: Application Is Considered Ready for Issue , PILS)
2017年09月15日 us_d1935 (更多信息: Dispatch to FDC , D1935)
2017年09月27日 us_wpir (更多信息: Issue Notification Mailed , WPIR)
2017年09月28日 us_eml_ntr (更多信息: Email Notification , EML_NTR)

更新记录

2014年06月20日